“4G and LTE”时代的來临，“Trial and Error”时代的终結

ωǒち係あ鋒

    “TrialandError”是工程实践调试方法，其基本原理模型是经验累“TrialandError”是工程实踐调试方法，其基本原理模型是经验累“TrialandError”在射频电路调试中比较常见，主要有两個原因：“TrialandError”调试方法在手机2G时代大量使用，并取得了较手機3G时代開始以复杂的数字调制为重要特征，所以射频电路以功率和线性为重然而，在单調繁瑣的調試过程中，“TrialandError”调试方法的问其次，“TrialandError”的初始状态，通常基于原始参考设计，由最后，“TrialandError”從方法原理上，仅可能找到局部最優解，“4GandLTE”時代的来临，对射频电路提出了更高的要求，不仅是射频电对于“4GandLTE”时代的射频电路，已总结出一套完整的基于仿真的高級由于新的射频电路調试方法基于射频電路數字仿真技术，而ADS是最容易获得的



    “TrialandError”是工程实践调試方法，其基本原理模型是经验累“TrialandError”在射频電路调试中比较常见，主要有两个原因：“TrialandError”调试方法在手机2G时代大量使用，并取得了较手机3G时代开始以復雜的数字調制为重要特征，所以射频電路以功率和线性為重然而，在单调繁琐的调试过程中，“TrialandError”调试方法的问其次，“TrialandError”的初始狀态，通常基于原始参考設计，由最后，“TrialandError”从方法原理上，仅可能找到局部最优解，“4GandLTE”時代的来臨，对射頻电路提出了更高的要求，不仅是射频电对于“4GandLTE”时代的射频电路，已总结出一套完整的基于仿真的高级由于新的射頻电路调试方法基于射频电路数字仿真技术，而ADS是最容易获得的




“Trial andError”是工程实踐调试方法，其基本原理模型是经驗累積及誤差迭代消除，具體在射頻电路调試过程中，是根据原始參考設计，設定初始元件及器件值，調整元件组合及器件值大小，尽量減少与期望结果误差，通過反复努力，獲得在期望结果容差范围內的，元件組合及器件值的调试方法。


“Trial andError”在射频电路调试中比较常见，主要有两個原因：首先是因为射頻电路比較复雜，射頻特性受很多因素影響，不同应用平台的元件组合及器件值完全不同，所謂参考设計仅能提供基本的性能参考，必须通過较长过程的經验累積及误差迭代消除，也即“调调试试”的過程，才能實现期望的性能結果。另外，“Trial and Error”調试方法的入门门槛较低，不需对射頻电路有深刻的認識和理解，甚至可以简化為换器件及测試，适用于技术資源较薄弱，但又需大量支撑的场合，所以“Trial and Error”甚至被戏称为体力活，依靠的是“运气和努力”。


“Trial andError”调试方法在手机2G時代大量使用，并取得了较好的实際效果，基本原因是因为手机2G時代的射频電路以功率指标为主，器件理论设計與實際參数吻合较好，只要射频電路设計，生產及裝配严格以50歐姆为品控指标，調試难度不大，僅需根據参考设計，调整为數不多的元件，應付几個頻段即可，所以實际使用结果较好，但也同时掩蓋了一个問題：“Trial and Error”其实并不能算是严格意义上的射频知识積累，累積的所謂經驗，僅能處理相同或類似的問题，对于手机3G时代面臨的射频电路調试问题，其弱点逐渐暴露出來。


手機3G时代開始以复杂的数字调制为重要特征，所以射频电路以功率和线性为重要指標，由于理论的局限性，射频电路线性指标的理论设计與实际参数吻合較差，所以手机3G時代開始，射頻電路的調試难度显著增加，不同应用平台射频电路的的不确定性開始體現，原始参考电路很难在不同应用平台上统一使用，也不能通过调整為數不多的元件，实现期望的射頻性能，基本憑借“运气和努力”，依靠“Trial and Error”，期望最大限度地实现射频性能。


然而，在单調繁瑣的調試过程中，“Trial and Error”調试方法的问题在逐渐体現出来：首先，“Trial andError”是基于人類線性思維方式工作的，例如器件值增大，性能变好，我們就只能認為误差迭代消除的方向是器件值增大，对于兩個或以上器件組合或值变化組合，对性能的影響，完全沒有相应的思維方式和處理方法，所以“Trial and Error”的误差迭代消除方式是非常缓慢，并且是不可靠的，具體表现为可能很快有较好的结果，也可能花费很多时间和精力也不能获得好的性能结果，只能依靠增加资源投入或降低标准，以實現性能目标。


其次，“Trial andError”的初始狀态，通常基于原始参考设计，由于实际射频电路設計与原始參考设計存在差別，有可能射頻特性完全不同，因此基于原始参考设计的初始狀态，有可能完全不能在实际射频电路上，實现期望的射频性能，这也可能是某些“Trial and Error”調試方法陷入“死胡同”，始終不能实現期望的射频性能的根本原因。


最后，“Trial andError”從方法原理上，仅可能找到局部最優解，很难实现全局最優解，即使用“Trial and Error”調试方法所實现的最佳射频性能，仅是“调調試試”過程中射頻性能最佳的，对于射频電路可能实現的潛在最佳射频性能，“Trial and Error” 線性工作过程中累積的数據和結果，無现实指导意义，所以射频電路可能并能体现真正的最佳射頻性能。


“4G and LTE”時代的来臨，对射频电路提出了更高的要求，不僅是射频电路更复杂，功能單位面积更小，应用頻段更多，功率和线性要求更高，更重要的是，产品周期更快，研發及调试風险更大。顯然，“Trial and Error”從方法，原理及應用上，是不能適合“4G and LTE”的要求的。所以，普遍地有“4G and LTE”射頻电路較难調試的現象，因此，運用新的射頻电路調试方法，切實可行地高效解決目前射频电路调试面临的根本問题，具有很強的指导意義及实用价值。


對于“4G and LTE”时代的射頻电路，已总结出一套完整的基于仿真的高級調試方法，仿真與實测结果的吻合度達到90%以上，完全不依赖“Trial and Error”，可高效解决目前射频電路面臨的根本調試问题，基本做到3天左右完成目前“4G and LTE”，5模12頻段的射頻調试工作，而且射频性能基本实現全局最優，最大限度地发揮射頻電路的最佳性能。


由于新的射频电路調试方法基于射频電路數字仿真技术，而ADS是最容易获得的射频电路仿真手段，所以附件以ADS为例，介绍了初级階段，基于ADS仿真的射頻電路调试方法，并增加了一些射频知識方面的內容，希望有“拋砖引玉”的作用。需着重指出的是，ADS的S参数射频電路仿真，是基于传输线方程的数值仿真计算，而双工器等是基于MAXWELL方程的射頻功能器件，在附件的应用实例中，实质是用S参数代替双工器進行ADS數值仿真计算，其結果必然与实测结果误差较大，而且工作频率越高，誤差越大，所以此方法為初級调试方法，目的是掌握新的思维方式和工作方法，熟练的话，可以确保半日或1日完成“4G and LTE”1个頻段的射频調試工作，相对“Trial and Error” 單调繁琐的調試過程，以及依靠“运气和努力”的性能結果，已经是很大的進步。



RF Matching Techniques.pdf

下載積分: 資产 -2 信元, 下載支出 2 信元

擎峰

村田的讲义你竟然能拿到~~~~